用万用表测可控硅好坏,容易误判,且不能带电在线测量。最好的办法还是、要接强电和负载、并加触发电压测试。笔者在长期实践中,有一种最为简便可靠的测试方法。 某可控硅SCR控制器主电路如图l的虚线框内所示,改用60W灯泡作负载,SCR为待测可控硅。准备一支二极管lN4007,正极接可控硅阳极,负极串联电流表碰触可控硅控制极,如灯泡亮(灯泡亮度比正常小),电流表指示几毫安以下,可控硅是好的。如果电流很大,正好等于通过灯泡电流(90V电压加在60W灯泡上,约0.14A),显然AK没有电流通过,可控硅损坏断路了。有经验的电工不必串联电流表,按照碰触瞬间产生火花情况就可进行判断。如图1,先将二极管正极与SCR的A极连接牢固,再把二极管负极碰触SCR的G极,对于好的SCR,因通过二极管电流很小,不产生火花;如果SCR的AK断路,流过二极管的电流很大,就会有明显火花,所以两者情况不用电流表也可判断。如灯泡不亮(排除因线路故障无输出情况),肯定可控硅损坏。 用二极管接触可控硅AG,进行触发,它不要其他触发电源,也是安全的。 读者可能有顾虑,直接用强电触发,恐怕损坏可控硅或测试二极管,但分析产生触发过程表明:二极管在可控硅阳极A电压由零上升到O.7V以上时,开始有正向电流,到5V左右时,大多数可控硅即会导通,导通后AK正向电压仅(0.7~1)V左右,二极管在此低电压作用下。其通过GK的电流接近零。并且触发电压、电流、脉宽还能够根据可控硅需要量自动调整。图2是SCR触发过程电源电压曲线,最大值311V,粗线表示AK承受电压曲线,正向最大值由该可控硅所需要的触发电压和脉宽确定,仅几伏触发电流起作用的是画剖面线段的时间内,不足电源半周期的百分之一(图未按照实际比例)。如可控硅不通,负载是60W灯泡,测试二极管lN4007承受全部电流也没有问题,因此图1的电路对于被测可控硅和测试用二极管都是安全的(串联电流表时,开始用1A挡1。 笔者用单结晶体管、555两种触发电路和本测试方法,测试了一些可控硅触发情况,并测量可控硅GK正反向电阻(用MF35型表R×10挡,如附表所示。 5A/600V | 单结晶体管电路能触发 | 0.015mA | 100Ω | 180Ω | 5A/600V | 单结晶体管电路能触发 | 0.1mA | 150Ω | 1.2kΩ | 5A/600V | 单结晶体管电路能触发 | 0.18mA | 75Ω | 1.9kΩ | 2OA/800V | 单结晶体管电路能触发 | 0.1mA | 900 | 120Ω | l0A/800V | 555电路能触发,单结晶体管电路不能 | O.8mA | 40Ω | 9Ω | 20A/800V | 555电路能触发.单结晶体管电路不能 | O.4mA | 100Ω | 800Ω | 20A/800V | 555电路能触发,单结晶体管电路不能 | 013mA | llΩ | 600Ω | 10A/800V | 两种电路均不触发,本测试能触发 | 4.1mA | 35Ω | 350Ω | 20A/800V | 两种电路均不触发,本测试能触发 | 5.0mA | 48nΩ | 48Ω |
表中反映较容易触发的可控硅(单结晶体管触发电路触发功率较小),测试的触发电流较小,但同一规格产品差别甚大,这一方面表明所需触发电压、脉宽的差异,还有一个重要因素是可控硅导通后正向电压降大小,因导通时间远大于触发时间,它对通过二极管电流影响更大。当所测电流较小时,该可控硅正向电压降也较小,这是一个优良SCR。 除SCR确实损坏,本电路无一例外都能触发。利用该测试电路把某些控制器上不能触发,但并未损坏的可控硅挑选出来,作整流管使用,如图3(a)中lOA可控硅AG并联1N4007后,相当图3(b)10A整流管。我用它们装配成给10kW发电机的励磁整流器,在农村某加油站使用,四年多没有出现故障。 |